上海精科 紫外分光光度计 UV-757CRT

上海精科 紫外分光光度计 UV-757CRT

附电脑、打印机

UV757系列紫外可见分光光度计能在紫外、可见光谱区域内对样品物质作定性和定量的分析。主机功能：
采用微机测量系统，τ-A转换精确，自动调整0%（τ）和调整*（τ），具有GOTOλ，自动8联样品架，自动扣除比色皿误差，浓度多点标定，斜率和截距设置等功能，具有RS232接口和并行打印口（打印机，另行选配）。

联机功能：
通过RS232串行接口，可利用上层软件作全波长扫描，时间扫描，浓度回归方程（1次、2次、3次），多波长测试，并大大扩展测试功能（除主机功能外）。
上海精科 紫外分光光度计 UV-757CRT

技术指标：
◆波长范围：200nm～1000nm
◆光源：钨卤素灯12V20W（进口） DD2.5氘灯（进口）
◆接收元件：光电池
◆波长zui大允许误差：±0.5nm
◆波长重复性：≤0.2nm
◆光谱带宽：2nm
◆杂散光：≤0.3%（τ）（在220nm以Nal测定和340nm处以NaNO2测定）
◆透射比测量范围：0.0%（τ）～200.0% (τ）
◆吸光度测量范围：-0.301（A）～4.000(A)
◆透射比zui大允许误差：±0.5%（τ）
◆透射比重复性：≤0.2%（τ）
◆噪声：*噪声≤0.5%（τ） 0%噪声≤0.2%(τ)
◆稳定性：≤0.004A/30min

其它：
◆电源：AC220V±22V 50Hz±1Hz